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晶硅電池隱裂檢測

主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測

產品型號:LPsolar-SC100


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技術參數
產能 ≥3600片/小時
最高檢測精度 150μm
設備有效時間 99%
破片率 <0.05%(傳輸剔除)
重復性 99.85%
電壓 220V AV
功率 ≤1000W
產品優勢
  • 一體化隱裂碎片檢測模塊
  • 全定制光學系統(售價更低,性能更好)
  • 高效AI算法(算法時間100ms以內)
缺陷圖例
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